应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是
发布时间:2021-01-09
A.硒鼓检测器
B.IP成像转换器
C.直接转换平板探测器
D.间接转换平板探测器
E.多丝正比室检测器
试卷相关题目
- 1CR与DR系统应用比较,相同点是
A.成像方式
B.操作方式
C.床旁摄影
D.可应用于常规摄影
E.与常规X线设备匹配
开始考试点击查看答案 - 2屏/片系统成像与数字平板X线摄影的共同之处是
A.图像存储
B.成像能源
C.转换介质
D.成像方式
E.传输方式
开始考试点击查看答案 - 3关于平板探测器的叙述,错误的是
A.有直接转换型和间接转换型
B.其极限分辨率比屏/片系统低
C.其MTF比屏/片系统低
D.其DQE比屏/片系统高
E.DQE比CR系统高
开始考试点击查看答案 - 4关于CR的工作原理,正确的是
A.IP由基层、荧光体层和保护层构成
B.IP由基层、晶体层构成
C.IP用于检测图像数据
D.IP用于存储图像数据
E.IP用于传输图像数据
开始考试点击查看答案 - 5多丝正比电离室探测器是
A.直接探测器
B.间接探测器
C.模拟探测器
D.平板探测器
E.动态探测器
开始考试点击查看答案 - 6从X线到影像按“潜影→可见光→数字影像”这—程序转换的是
A.Ⅱ+TV摄像机
B.成像板
C.闪烁体+CCD摄像机阵列
D.直接转换平板探测器
E.间接转换平板探测器
开始考试点击查看答案 - 7FPD能够成为平板形状,主要是探测器的单元阵列采用的是
A.薄膜晶体管技术
B.光敏照相机技术
C.光电倍增管技术
D.光激励发光技术
E.非晶硒技术
开始考试点击查看答案 - 8间接DR中,位于FPD顶层的是
A.非晶硒
B.碘化铯
C.钨酸钙
D.非晶硅
E.CCD
开始考试点击查看答案 - 9直接平板探测器的线性度范围是
A.1:10
B.1:100
C.1:1000
D.1:10000
E.1:100000
开始考试点击查看答案 - 10直接FPD可以由什么直接获得像素位置信息
A.地址编码电路
B.信号放大电路
C.滤波电路
D.A/D转换电路
E.显示电路
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