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被检工件晶粒粗大,通常会引起:(    )

发布时间:2024-07-12

A.草状回波增多

B.信噪比下降

C.底波次数减少

D.信噪比提高

试卷相关题目

  • 1焊缝检验中,对一缺陷环绕扫查,其动态波形包络线是方形的,则缺陷性质可估判为(    )

    A.条状夹渣

    B.圆形气孔

    C.裂纹

    D.圆形夹渣

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  • 2在同一界面上,声强反射率 R 与声强透过率 T 之间的关系是(    )

    A.R+T=1

    B.T=1-R

    C.R=1-T

    D.R/T=1

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  • 3窄脉冲探头一般是(    ):

    A.灵敏度较低的探头

    B.宽带探头

    C.低 Q 值探头

    D.高Q值探头

    E.灵敏度高的探头

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  • 4声波在金属材料中传播时,其能量逐步降低的原因是(    )

    A.波束的扩散

    B.波在介质中的散射

    C.介质对波动的粘滞和吸收作用

    D.探头灵敏度低

    E.探头灵敏度高

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  • 5下面有关 61°反射波的说法,哪些是正确的?(    )

    A.产生 61°反射时,纵波入射角与横波反射角之和为 90°

    B.产生 61°反射时,纵波入射角为 61°横波反射角为 29°

    C.产生 61°反射时,横波入射角为 29°,纵波反射角为 61°

    D.产生 61°反射时,其声程是恒定的

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  • 6锻件中的粗大晶粒可能引起:(    )

    A.底波降低或消失

    B.噪声或杂波增大

    C.超声严重衰减

    D.以上都没有

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  • 7超声检测,影响缺陷定位的主要因素有(    )

    A.仪器的影响

    B.探头的影响

    C.工件的影响

    D.操作人员的影响

    E.焊工的影响

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  • 8有关像质计使用的说法正确的是(    )

    A.摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内.

    B.采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验

    C.当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记

    D.当像质计摆放在射线源侧时应加放“F”标记

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  • 9X 射线和γ射线与无线电波(    )等属于同一范畴,都是电磁波

    A.红外线

    B.可见光

    C.紫外线

    D.以上都不是

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  • 10胶片显影后不经水洗或停显液处理就直接放入定影液中时,容易产生双色性灰雾,这种灰雾是(    )

    A.反射光下呈现粉红色

    B.在反射光下呈现蓝绿色

    C.在透射光下呈现粉红色

    D.在透射光下呈现粉蓝绿色

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