试卷相关题目
- 1受电场或磁场影响的射线是( )
A.X 射线
B.γ射线
C.a 射线
D.β射线
开始考试点击查看答案 - 2放射性同位素的辐射强度( )
A.随时间增大
B.随时间减小
C.不随时间变化
D.以上都不对
开始考试点击查看答案 - 3以下哪一种电磁波是线状谱( )
A.X 射线
B.γ射线
C.紫外线
D.红外线
开始考试点击查看答案 - 4像质计放在近胶片一侧工件表面时,要做什么试验( )
A.灵敏度试验
B.模拟试验
C.对比试验
D.焦点尺寸测定试验
开始考试点击查看答案 - 5配制显影液的水温一般为( )
A.20~40℃
B.30~50℃
C.40~60℃
D.60~70℃
开始考试点击查看答案 - 6以下关于 Nyquist 极限的叙述,正确的是:( )
A.Nyquist 极限可以保证信号幅度不失真
B.Nyquist 极限可以保证信号频率不失真
C.Nyquist 极限可以保证信号幅度和频率均不失真
D.以上都对
开始考试点击查看答案 - 7TOFD 探头晶片尺寸越小,则:( )
A.波束扩散越大,近场长度 N 越小,辐射超声能量越低
B.波束扩散越大,近场长度 N 越小,辐射超声能量越高
C.波束扩散越大,近场长度 N 越大,辐射超声能量越低
D.波束扩散越小,近场长度 N 越小,辐射超声能量越低
开始考试点击查看答案 - 8使用 4 对探头进行 TOFD 扫查,已知系统设定的脉冲重复频率是 1024Hz,并使用了 16 次叠加来获得平均波形,如果扫描速率是 50mm/s,则对于任一对 TOFD 探头,获得一个 A 扫的时间内探头移动距离为:( )
A.3.1mm
B.0.77mm
C.0.19mm
D.0.049mm
开始考试点击查看答案 - 9以下关于 TOFD 技术局限性的叙述,错误的是:( )
A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信号淹没在直通波内导致漏检
C.在进行非平行扫查时底面存在盲区
D.在进行平行扫查时底面存在盲区
开始考试点击查看答案 - 10在发现缺陷的初始 TOFD 扫查阶段,选择探头的主要考虑是:( )
A.提高分辨力,所以应选择高频率和小直径探头
B.提高信噪比,所以应选择低频率和大直径探头
C.提高波束强度,所以应选择高频率和大直径探头
D.提高波束的覆盖范围,所以应选择低频率和小直径探头
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