高电压考试题3501-3600

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• 11对于电容量较大的试品（例如套管、互感器等），测量tanδ能有效地发现局部集中性缺陷和整体分布性缺陷。但对电容量较小的试品（例如大中型发电机、变压器、电力电缆、电力电容器等）测量tanδ只能发现整体分布性缺陷.（）

  A.正确

  B.错误

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• 12耐压试验属于破坏性试验。（）

  A.正确

  B.错误

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• 13测量绝缘电阻不能有效发现绝缘中的局部缺陷。（）

  A.正确

  B.错误

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• 14电介质的tgδ值随温度增加而减小。（）

  A.正确

  B.错误

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• 15绝缘电阻的测量可以发现绝缘介质分布不均匀。（）

  A.正确

  B.错误

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• 16试品如果绝缘严重受潮，则吸收比K将远小于1.（）

  A.正确

  B.错误

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• 17测量tanδ能有效判别设备绝缘中的一些集中性缺陷。（）

  A.正确

  B.错误

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• 18为了消除表面泄漏的影响，在做直流泄漏试验时，通常采用屏障法。（）

  A.正确

  B.错误

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• 19介质损耗因数tanδ试验，可以发现设备绝缘整体受潮.劣化变质.以及小体积设备绝缘的某些局郁缺陷。（）

  A.正确

  B.错误

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• 20电力电缆做直流耐压试验时，其绝缘中的电压是按直流电阻分布的。（）

  A.正确

  B.错误

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