试卷相关题目
- 1SPECT均匀性校正操作过程错误的一项是
A.点源活度0.3~0.5mCi,体积≤1ml,计数率≥30k/s
B.将探头准直器去掉,按厂家要求给探头加铅框和有机玻璃罩
C.置放点源于5倍探头视野的距离之外,对准视野中心
D.20%中心能窗,64矩阵,计数1000k以上
E.收起点源,换上准直器,用软件求出视野内的最大计数与最小计数
开始考试点击查看答案 - 2影响SPECT均匀性的主要因素不包括
A.能峰设置不正确
B.每小时温差超过1℃
C.探头轴向倾斜
D.光电倍增管高压漂移
E.旋转中心漂移
开始考试点击查看答案 - 3固有均匀性应每天测试和校正,若均匀性变化大于()参考值,应寻找原因,及时维护
A.0.05
B.0.1
C.0.15
D.0.2
E.0.25
开始考试点击查看答案 - 4SPECT的CFOV积分均匀性是指
A.95%视野内全部像素中最大计数与最小计数的差与和的百分比
B.95%视野内相邻五个像素为一组,找出两个像素最大计数差值,计算这两个计数差与和的百分比
C.75%有效视野内全部像素中最大计数与最小计数的差与和的百分比
D.75%有效视野内相邻五个像素为一组,找出两个像素最大计数差值,计算这两个计数差与和的百分比
E.以上都不对
开始考试点击查看答案 - 5关于表模式采集的描述,错误的一项是
A.表模式采集没有具体的矩阵像素
B.门控采集属于表模式采集
C.表模式必须通过帧重组才能构建图像
D.表模式采集参数指发生闪烁事件的地址,地址的计数值,总采集时间和采集的时间程式
E.表模式常用于动态采集
开始考试点击查看答案 - 6下列SPECT分辨率测试步骤(铅栅型)错误的一项
A.探头去准直器,加铅栅模型,对正X、Y方向
B.置放点源于5倍探头视野的距离之外,与中轴对齐
C.设置20%中心能量窗,128矩阵,1000k以上计数,采集图像
D.依次90°转动模型,重复采集图像,直至4个方位完成,去掉点源铅栅,换上准直器
E.所能看见的最小线条即为铅栅分辨率,FWHM=0.5×最小铅栅间隔
开始考试点击查看答案 - 7下列SPECT分辨率测试步骤(半高宽型)错误的一项
A.探头去准直器,平行于X方向将模型置于视野中间,设置20%居中能窗,128矩阵,1000k以上计数,采集图像
B.平行于Y方向置放模型,重复采集;去掉线源模型,精确测量模型上两线源之间的距离
C.垂直于线源图像勾画3个像素宽的剖面线,求出剖面线上每一个像素的计数值,并将每个像素的计数值绘制在坐标纸上组成正态分布曲线
D.测量坐标纸上两个波峰之间像素数,测量其中一正态分布曲线1/2峰高处的像素数
E.用模型上两线源之间的精确距离除以图像上两峰值之间的像素数,得出像素尺寸,然后用正态分布曲线1/2峰高处宽度的像素数乘以像素尺寸即得到FWHM
开始考试点击查看答案 - 8下列SPECT空间线性测试步骤错误的一项
A.探头去准直器,加铅栅模型,点源置于5倍探头视野的距离外,与中轴对齐
B.铅栅平行X方向,设置20%中心能量窗,128矩阵,1000k以上数,采集图像
C.转动铅栅模型使之平行于Y方向,重复图像采集;去掉点源、铅栅模型,换上准直器
D.直观铅栅图像,并与参考图像相比照,粗略判断线条有无畸形
E.计算XY方向每一个铅槽图像的线扩展函数峰值的位置,并计算出绝对线性和微分线性
开始考试点击查看答案 - 9下列SPECT空间绝对线性应小于
A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.5mm
D.1.0mm
E.2.0mm
开始考试点击查看答案 - 10下列SPECT空间微分线性应小于
A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.5mm
D.1.0mm
E.2.0mm
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