下列关于计数率特征的描述,错误的一项是
A.在符合探测中,总计数中除真符合外,不可避免地包含着散射符合和随机符合的计数率
B.在PET图像中,除了与真符合计数相关的统计涨落噪声外,还必须考虑散射和随机符合噪声
C.为评估PET图像质量,引入了噪声等效计数,以衡量噪声
D.噪声等效计数率等于总计数减去真符合计数率再与总计数的比值
E.数率特征反映总符合计数率、真实符合计数率、随机符合计数率、散射符合计数率和噪声等效计数率随活度的变化
试卷相关题目
- 1下列关于散射分数的描述,错误的一项是
A.PET系统对散射计数的敏感程度,散射分数越小,系统剔出散射符合的能力越强
B.散射分数有断层散射分数和系统散射分数
C.某一断层面i的散射分数SFi等于该断层中散射计数与总计数之比
D.散射分数计算时总计数为真符合、散射符合计数、随机符合计数之和
E.系统的散射分数SF等于所有断层面的散射分数SFi的平均
开始考试点击查看答案 - 2下列关于PET空间分辨率的描述,错误的一项是
A.PET系统对一个点源的成像扩展为一个分布,该分布称为点扩展函数(PSF)
B.PSF的FWHM越大,点源的扩展程度越大,分辨率越低
C.两个湮灭光子的运动方向不可能成180°角,要偏向电子偶的运动方向
D.正电子飞行距离是从零到最大射程连续分布,大多数正电子能量位于1/2Emax左右
E.两个湮灭光子的运动方向偏转角呈高斯分布,偏转角的半高宽为0.3
开始考试点击查看答案 - 3下列关于PET能量分辨率与能窗的描述,错误的一项是
A.脉冲能谱分布的半高宽与入射光子能量之比越小,能量分辨率越高
B.能窗下限可将低能量的散射光子排除掉
C.能窗上限过高将导致真符合计数的大量丢失
D.能量分辨率主要取决于晶体性能
E.能量分辨率与探测系统的设计有关
开始考试点击查看答案 - 4下列关于PET晶体的性能指标的描述,错误的一项是
A.晶体的发射光谱愈窄,在光电倍增管中的光电转换愈好
B.晶体的衰减长度短,探测效率提高,空间分辨高降低
C.晶体的衰减时间短,则时间分辨好,可使随机符合事件下降,系统死时间缩短
D.晶体光电效应分支比高,则定位精度好,能量分辨率好
E.晶体的发光效率高,则能量分辨好
开始考试点击查看答案 - 5下列关于PET晶体厚度和尺寸的描述,错误的一项是
A.晶体加厚使入射光子与晶体的相互作用机会增加,探测效率提高
B.晶体加厚使光电倍增管产生的脉冲能谱展宽,能量分辨下降
C.晶体面积增大,PET灵敏度提高
D.晶体面积增大,PET空间分辨率提高
E.成像时,接收到的射线均定位在小晶体探测器的中心
开始考试点击查看答案 - 6下列关于随机符合校正精度的描述,错误的一项是
A.描述PET系统对随机符合及由此时间引起的计数丢失的校正精度
B.用校正后的剩余相对误差∆R表示校正精度
C.∆R=(Rtrues/Rextrap-1)×100%
D.Rtrues为真实符合计数率
E.Rextrap为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
开始考试点击查看答案 - 7下列关于散射校正精度的描述,错误的一项是
A.散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力
B.用散射校正后的剩余误差∆C描述散射校正精度
C.在热背景中插入冷插件,进行散射校正后,∆C=(Ccold/CB)×100%
D.Ccold为图像上冷插件内计数
E.CB为图像上的总计数
开始考试点击查看答案 - 8在模拟临床采集的条件下,用标准的成像方法来比较不同成像系统的图像质量。用不同大小热灶、冷灶的对比度恢复系数及背景的变异系数描述PET的图像质量,对任一冷灶j,对比度恢复系数Qc,j的计算公式应该是
A.CH,j/CB,j-1∶aH/aB-1×100%
B.CC,j/CB,j-1∶aC/aB-1×100%
C.(1-CC,j/CB,j)×100%
D.(1-CH,j/CB,j)×100%
E.以上公式都不对
开始考试点击查看答案 - 9下列关于PET空白扫描的叙述错误的一项是
A.PET空白扫描的辐射源是X线球管
B.空白扫描的目的是监测探测器性能随时间发生的漂移
C.空白扫面的结果变异超过某一阈值会报警
D.空白扫描的结果经探测效率归一化校正后,与标准化正弦图比较,达不到要求的探测器块显示出来
E.当不合格的探测器块较多时,应重新测定探测效率归一化校正系数图
开始考试点击查看答案 - 10下列关于PET2D和3D采集的描述错误的一项是
A.3D采集的数据过剩,2D采集的数据不完整
B.2D采集只允许同环内的探测器相互形成符合线
C.3D采集允许不同环间的探测器相互符合
D.3D方式使系统的灵敏度远远高于2D方式
E.3D散射符合所占的比例大大低于2D方式
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