测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（ ）。

试卷相关题目

• 1下列仪器中，能用来测量直流高压的是（ ）。

  A.高阻微安表

  B.电容分压器

  C.电阻分压器

  D.静电电压表

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• 2用西林电桥测量介质损耗角正切，不能灵敏地发现（ ）。

  A.绝缘普遍性受潮

  B.绝缘局部磨损

  C.绝缘的局部受潮

  D.绝缘中有小气泡

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• 3绝缘电阻测量不能发现以下哪些缺陷（ ）。

  A.贯穿性导电通道

  B.受潮

  C.局部损伤

  D.整体老化

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• 4测量绝缘电阻和吸收比，能够发现绝缘中的（ ）缺陷。

  A.贯穿性导电通道

  B.分层脱开

  C.内部气隙

  D.普遍受潮

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• 5测量绝缘电阻能发现的缺陷有（ ）。

  A.绝缘整体受蹲

  B.存在贯穿性的导电通道

  C.绝缘局部严重受潮

  D.绝缘中的局部缺陷

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• 6局部放电电气检测方法有（ ）

  A.噪声检测法

  B.光检测法

  C.脉冲电流法

  D.介质损耗法

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• 7局部放电的非电气检测方法包括（ ）。

  A.噪声检测法

  B.介质损耗法

  C.光学分析法

  D.化学分析法

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• 8用铜球间隙测量高电压，霞满足（ ）条件才能保证国家标准规定的测量不确定度。

  A.铜球距离与铜球直径之比不大于0.5

  B.结构和使用条件必须符合IEC的规定

  C.需进行气压和温度的校正

  D.应去除灰尘和纤维的影响

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• 9

  用球隙测量交直流电压时，关于串接保护电阻的说法，下面（ ）是不对的。

  A.球隙必须串有很大阻值的保护电阻

  B.串接电阻越大越好

  C.—般规定串联的电阻不超过500Ω

  D.冲击放电时间很短，不需要保护球面。

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• 10以下试验项目属于破坏性试验的是（）

  A.耐压拭验

  B.绝缘电阻测量

  C.介质损耗测量

  D.泄漏测量

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